臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀：

EDX-6000X熒光光譜儀融合經驗系數法、基本參數法等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。

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EDX-6000X熒光光譜儀基本參數法（FP法）：儀器根據實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。 

EDX-6000X熒光光譜儀經驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。

軟件功能

元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%

采用內標校正，提高非定性式樣測量精度

用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法

全自動定量分析報告簡捷準確

自適應初試化校正

光譜的自動獲取和顯示。

具有自動檢測儀器工作狀態的功能。

自動判別樣品及自動分析。提供擴展接口，進一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。

硬件

美國進口探測器，高速脈沖高度分析系統

美國SPELLMAN高壓發生器

美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好

美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好

美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好

尺寸＆重量

電源：550220V±10％   50Hz

環境溫度：10℃-28℃

環境濕度：≤70 ％RH(25℃室溫）

產品優勢

臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀：

無損檢測

在無標準樣品時亦可準確分析

測量時間比化學方法短，不需要輔助材料

計算機進行數據處理，分析快速準確

高分辨率圖形即時顯示，由不同色塊加以判斷區分

硅半導體探測器

元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%

采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度

全自動定量分析報告簡捷準確

自適應初試化校正

光譜的自動獲取和顯示

具有自動檢測儀器工作狀態的功能

自動判別樣品及自動分析

技術參數：